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Influence of Mechanical Finishing on Secondary Electron Emission of Alumina Ceramics
https://sucra.repo.nii.ac.jp/records/13357
https://sucra.repo.nii.ac.jp/records/13357a5973acf-0ba1-43bf-bec4-c8ce1176990e
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
A1002803.pdf (689.2 kB)
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| Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2008-12-03 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Influence of Mechanical Finishing on Secondary Electron Emission of Alumina Ceramics | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | journal article | |||||
| 著者 |
Suhar, yanto
× Suhar, yanto× Michizono, Shinichiro× Saito, Yoshio× Tumiran× 山納, 康× 小林, 信一 |
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| 著者 ローマ字 | ||||||
| 値 | Suharyanto | |||||
| 著者 ローマ字 | ||||||
| 値 | Michizono, Shinichiro | |||||
| 著者 ローマ字 | ||||||
| 値 | Saito, Yoshio | |||||
| 著者 ローマ字 | ||||||
| 値 | Tumiran | |||||
| 著者 ローマ字 | ||||||
| 値 | Yamano, Yasushi | |||||
| 著者 ローマ字 | ||||||
| 値 | Kobayashi, Shin'Ichi | |||||
| 著者 所属 | ||||||
| 値 | 埼玉大学大学院理工学研究科数理電子情報部門 | |||||
| 著者 所属 | ||||||
| 著者 所属 | ||||||
| 著者 所属 | ||||||
| 著者 所属 | ||||||
| 値 | 埼玉大学大学院理工学研究科数理電子情報部門 | |||||
| 著者 所属 | ||||||
| 値 | 埼玉大学大学院理工学研究科数理電子情報部門 | |||||
| 著者 所属(別言語) | ||||||
| 値 | Department of Electrical and Electronic Systems, Saitama University(Present : Department of Electrical Engineering, Gadjah Mada University) | |||||
| 著者 所属(別言語) | ||||||
| 値 | High Energy Accelerator Research Organization (KEK) | |||||
| 著者 所属(別言語) | ||||||
| 値 | High Energy Accelerator Research Organization (KEK) | |||||
| 著者 所属(別言語) | ||||||
| 値 | Department of Electrical Engineering, Gadjah Mada University | |||||
| 著者 所属(別言語) | ||||||
| 値 | Department of Electrical and Electronic Systems, Saitama University | |||||
| 著者 所属(別言語) | ||||||
| 値 | Department of Electrical and Electronic Systems, Saitama University | |||||
| 書誌情報 |
22nd International Symposium on Discharges and Electrical Insulation in Vacuum : ISDEIV p. 97-100, 発行日 2006 |
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| 年月次 | ||||||
| 値 | 2006-9 | |||||
| 出版者名 | ||||||
| 出版者 | IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC | |||||
| 収録物識別子 | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 10932941 | |||||
| DOI | ||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||
| 関連識別子 | info:doi/10.1109/DEIV.2006.357240 | |||||
| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | Secondary electron emission (SEE) coefficients of alumina ceramics with three different surface finishes have been measured using a scanning electron microscope with a single-pulse electron beam (100 pA, 1 ms). SEE coefficients of those aluminas with annealing process became lower after mechanical grinding operations even though its average roughness was almost same as those of as-sintered ones. SEE coefficients of mirror-finished samples were the smallest among the samples. Changes of SEE coefficient with incident angle of primary electrons for smooth and rough surfaces are also discussed | |||||
| 注記 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 2008年9月ルーマニア・ブカレスト開催 第23回ISDEIV『最優秀論文賞』受賞論文 Japan Prize-Best Paper Award |
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| 版 | ||||||
| 値 | [出版社版] | |||||
| 出版タイプ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | text | |||||
| フォーマット | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | application/pdf | |||||
| 作成日 | ||||||
| 日付 | 2008-12-03 | |||||
| 日付タイプ | Created | |||||
| アイテムID | ||||||
| 値 | A1002803 | |||||
