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アイテム
遠赤外線領域の光学材料評価技術の開発 ： SmHＸ薄膜（2.2<x<2.6）における誘電関数評価への応用
https://doi.org/10.24561/00016820
https://doi.org/10.24561/00016820703261e9-c06e-4afc-9d70-6155a0215755
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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KY-AA11808968-08-12.pdf (644.2 kB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2009-02-25 | |||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||
| タイトル | 遠赤外線領域の光学材料評価技術の開発 ： SmHＸ薄膜（2.2<x<2.6）における誘電関数評価への応用 | |||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||
| 主題 | dielectric function | |||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||
| 主題 | Kramers-Kronig analysis | |||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||
| 主題 | SmHx | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||||||||||||||
| ID登録 | ||||||||||||||||||
| ID登録 | 10.24561/00016820 | |||||||||||||||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||||||||||||||
| 著者 |
酒井, 政道
× 酒井, 政道
× 遠藤, 元気
× 中村, 修
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| 著者 ローマ字 | ||||||||||||||||||
| 値 | Sakai, Msamichi | |||||||||||||||||
| 著者 ローマ字 | ||||||||||||||||||
| 値 | Endo, Motoki | |||||||||||||||||
| 著者 ローマ字 | ||||||||||||||||||
| 値 | Nakamura, Osamu | |||||||||||||||||
| 著者 所属 | ||||||||||||||||||
| 値 | 埼玉大学大学院理工学研究科物質科学部門 | |||||||||||||||||
| 著者 所属 | ||||||||||||||||||
| 値 | 埼玉大学大学院理工学研究科物質科学部門 | |||||||||||||||||
| 著者 所属 | ||||||||||||||||||
| 値 | カシオ計算機要素技術統括部 | |||||||||||||||||
| 著者 所属(別言語) | ||||||||||||||||||
| 値 | Department of Functional Materials Science, Saitama University | |||||||||||||||||
| 著者 所属(別言語) | ||||||||||||||||||
| 値 | Department of Functional Materials Science, Saitama University | |||||||||||||||||
| 著者 所属(別言語) | ||||||||||||||||||
| 値 | Advanced Research Lab. Casio Computer | |||||||||||||||||
| 書誌情報 |
埼玉大学地域共同研究センター紀要 en : Report of Cooperative Research Center, Saitama University 巻 8, p. 32-35, 発行日 2008 |
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| 年月次 | ||||||||||||||||||
| 値 | 2007 | |||||||||||||||||
| 出版者名 | ||||||||||||||||||
| 出版者 | 埼玉大学総合研究機構地域共同研究センター産学連携推進部門 | |||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 13474758 | |||||||||||||||||
| 概要 | ||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||||||
| 内容記述 | We have carried out the dielectric function analysis of SmHｘ(x=2.28, 2.42, 2.56, 2.57) films based on the room-temperature reflectance spectra for photon energies ranging form 0.05 to 6.5 eV. The analysis has been performed by using i) the model dielectric functions and ii) Kramers-Kronig analysis to obtain the real and imaginary parts of the dielectric constants in SmHｘ. The both approaches demonstrate that the interband transition energy shows a red shift of about 1 eV when H/Sm ratio is increased from 2.28 to 2.57, though the lattice constant remains almost unchanged. | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||||||
| 内容記述 | text | |||||||||||||||||
| フォーマット | ||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||||||
| 内容記述 | application/pdf | |||||||||||||||||
| 作成日 | ||||||||||||||||||
| 日付 | 2009-02-26 | |||||||||||||||||
| 日付タイプ | Created | |||||||||||||||||
| アイテムID | ||||||||||||||||||
| 値 | KY-AA11808968-08-12 | |||||||||||||||||
