WEKO3
アイテム / Electrical Characteristics of Interface Defects in Oxides Grown at 1200℃ in Dry Oxygen Ambient on Silicon Carbide and Their / A1003067
A1003067
ファイル | ライセンス |
---|---|
A1003067.pdf (121.2 kB) sha256 46ee5b91d59ac668877eab8885add9b53a2b276f4ef31eee0fc7e08b0ace4512 |
公開日 | 2008-01-30 | |||||
---|---|---|---|---|---|---|
ファイル名 | A1003067.pdf | |||||
本文URL | https://sucra.repo.nii.ac.jp/record/13096/files/A1003067.pdf | |||||
ラベル | A1003067.pdf | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 121.2 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
---|